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用于反克隆的非易失性存储器及其验证方法技术
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文档序号:8687943
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提供用于反克隆的非易失性存储器。非易失性存储器包括:增强的媒体标识(EMID)区域,其位于非易失性存储器的特定区域,并且存储用于识别非易失性存储器的EMID;EMID编码器,用于通过以任意值进行预先设定的操作来修改EMID。...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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