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本发明公开了一种集成电路最长可测路径选择测试方法及系统，涉及数字集成电路测试技术领域，本发明通过对集成电路进行预处理，获得了所述集成电路中的所有b-f段，避免了回溯，降低了在路径选择时，减少了对部分路径的测试次数，大大提高了集成电路最大路径...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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