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本发明提供一种适用于静态随机存储器的冗余容错内建自修复方法，该方法对传统的内建自修复算法提出了改进，加入了冗余测试模块和失效冗余地址屏蔽模块，解决了传统内建自修复算法在冗余地址失效时，无法正确修复的缺陷。冗余测试模块先对冗余地址测试，如果被...
该专利属于西安华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安华芯半导体有限公司授权不得商用。

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