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基于二次曲面的微纳物体图像倾斜校正方法技术
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文档序号:8656286
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本发明涉及一种基于二次曲面的图像倾斜校正方法,包括以下步骤:获得被测物体上表面每个点的高度数据;用户判断高度图像是否倾斜;若需要进行倾斜校正,则执行如下步骤:1)获得一个拟合二次曲面;2)根据被测样品上表面的高度数据得到拟合斜面一;3)用把...
该专利属于北京理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京理工大学授权不得商用。
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