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本实用新型提供一种半导体芯片引脚检测工具，其中该检测工具包括检测芯片相对两侧引脚间距的相对引脚检测槽、检测芯片引脚高度的检测台、检测同一侧相邻引脚之间间距的相邻引脚检测槽。通过使用该检测工具能够直观准确地检测引脚的各种尺寸，使用该检测工具可...
该专利属于无锡华润安盛科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华润安盛科技有限公司授权不得商用。

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