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本发明提供一种能够防止氧化和熔损的探针卡用接触端子。在检查半导体器件的探针卡（10）的基座（11）中，在与半导体器件相对的面配置有多个伸缩探针（12），各伸缩探针（12）的柱塞（14）具有柱状的接触部（14c），接触部（14c）具有柱状的中...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。

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