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一种晶圆温度的检测方法,包括:提供晶圆,在所述晶圆上形成双极型晶体管,双极型晶体管作为温度检测器件;对所述温度检测器件进行校准;在所述双极型晶体管的基区上依次施加至少三个不同的基区电压,双极型晶体管工作在线性区,并测量获得与三个基区电压值对...该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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一种晶圆温度的检测方法,包括:提供晶圆,在所述晶圆上形成双极型晶体管,双极型晶体管作为温度检测器件;对所述温度检测器件进行校准;在所述双极型晶体管的基区上依次施加至少三个不同的基区电压,双极型晶体管工作在线性区,并测量获得与三个基区电压值对...