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本发明提供的一种数字集成电路测试总线接口，包括由N个信号单元构成的矩阵，N为不小于30的正整数，N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端。本发明中I/O信号端总数与电源信号端和地信号端和的总数的比为3:1，因此在...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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