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本发明涉及一种能对超声显微检测中的超声回波信号进行全时域波形采集和后期分析的方法，适用于半导体材料和电子封装等的超声显微检测领域。在超声显微检测中，由于采用的超声换能器均为高频聚焦探头，AD采样频率很高；同时，超声显微检测系统要求的扫查精度...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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