【技术实现步骤摘要】
应用于超声显微的全时域波形采集与分析技术
本专利技术涉及一种应用于超声显微检测系统中的信号采集与分析方法,适用于半导体材料、电子封装和生物组织的超声检测领域。二、
技术介绍
超声波显微扫描(Scanning Acoustic Microscopy,简称SAM)检测技术是一种新型的无损检测技术,它可以无损、精细、高灵敏度地观察物体内部及亚表层结构,在微电子、 光电子、材料、机械、航空航天、力学、摩擦、生物等领域得到了日益广泛的应用,能观察不同深度(从表层到数十毫米深)存在的尺度为微米到百微米的结构。在超声显微检测中,由于采用的超声换能器均为高频聚焦探头(中心频率一般在 20MHz以上),因而其AD采样频率也很高,一般在500MHz以上;同时,超声显微检测系统要求的扫查精度也很高(微米到百微米),这些导致在扫查过程中产生的数据量很大。以采样频率500MHz为例,当每个A扫信号的采样时长为4 μ S、扫查长度为20mmX 20mm、步距精度为20μπι、8位采样精度时,其产生的数据量就为2GB,这对系统的内存要求相当高,而当采样更高频率的超声探头和AD采样卡,对更大的试样进行检测时,其数据量更是成倍增加。 因此,很难实现全时域波形的采集,这给后期的分析带来了困难。三、
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种能对超声显微 检测中的超声回波信号进行全时域波形采集和后期分析的方法。本专利技术采用数据压缩技术来大幅减小采集的数据量,并存储在便盘文件中;在后期处理时,分段载入,进行解压和分析,通过设置不同的时间闸门位置来得到试样内不同深度位置的C扫图像(如图1所示),而不需 ...
【技术保护点】
应用于超声显微的全时域波形采集与分析技术,其特征在于:它采用数据压缩技术来大幅减小超声显微扫查过程中AD采集的数据量,存储到硬盘数据文件后,在调用时分段读入内存,可实现C扫、B扫和D扫成像功能。
【技术特征摘要】
1.应用于超声显微的全时域波形采集与分析技术,其特征在于它采用数据压缩技术来大幅减小超声显微扫查过程中AD采集的数据量,存储到硬盘数据文件后,在调用时分段读入内存,可实现C扫、B扫和D扫成像功能。2.根据权利要求1所述的数据压缩技术,其特征在于将超声A扫信号中的大量数据为O或接近于O的数据用一个O和数据长度表示,从而大...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐春广,刘中柱,门伯龙,赵新玉,肖定国,郭祥辉,杨柳,李喜朋,阎红娟,
申请(专利权)人:北京理工大学,
类型:发明
国别省市:
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