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本发明公开了一种对存储器芯片进行擦除的方法，将存储器芯片的共源极从接地方式改为接限流装置，该方法包括：对存储单元中的块进行预编程；对所有的存储单元进行擦除；对擦除之后的存储单元进行验证；以及以位线为单位进行软编程验证。利用本发明，在有效缩短...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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