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描述了一种利用根据测量装置中传播时间原理工作的料位测量设备(3)来测量容器(1)中的填充物质的料位(L)的方法，其中，在空容器(1)的情况中，发射到容器(1)中的微波信号(T)的至少一部分经由在容器(1)的底部上的反射而反射回料位测量设备(...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔两合公司授权不得商用。

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