用于根据传播时间原理测量料位的方法技术

描述了一种利用根据测量装置中传播时间原理工作的料位测量设备(3)来测量容器(1)中的填充物质的料位(L)的方法，其中，在空容器(1)的情况中，发射到容器(1)中的微波信号(T)的至少一部分经由在容器(1)的底部上的反射而反射回料位测量设备(3)。该方法安全而可靠地检测空容器(1)的存在。微波信号(T)被发射到容器(1)中并且其在容器(1)中反射回料位测量设备(3)的部分被接收作为被接收信号(R)。基于被接收信号(R)，推导出回波函数(E(P))，该回波函数把被接收信号(R)的振幅表达为对应于信号的传播时间或信号在容器中传播的路径距离的位置(P)的函数。仅在下列情况下指示空容器(1)的存在：在相应的回波函数(E(P))中未检测到料位回波(EL)，并且在相应的回波函数(E(P))中在位于先前确定的双侧受限的空回波位置范围(ΔPempty)中的位置(P)检测到容器底部回波(EF)，其中，容器底部回波(EF)在空容器(1)的情况中出现在空回波位置(Pempty)处，该空回波位置依赖于容器(1)的形状和料位测量设备(3)的安装位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种利用根据测量装置中传播时间原理工作的料位测量设备来测量容器中的填充物质的料位的方法，其中，在空容器的情况中，发射到容器中的微波信号的至少一部分经由在容器的底部上的反射而反射回料位测量设备，其中，料位测量设备将微波信号发射到容器中并在依赖于信号在容器中传播的路径距离的传播时间之后把信号在容器中反射到料位测量设备的部分作为被接收信号接收回，基于被接收信号推导出回波函数，该回波函数将被接收信号的振幅表达为与信号的传播时间或其在容器中传播的路径距离相对应的位置的函数，并且，基于回波函数，检测该回波函数是否包含归因于在填充物质的表面上的反射的料位回波并且该回波函数是否包含归因于在容器底部上的反射的容器底部回波。
技术介绍
这样的料位测量方法应用于许多工业分支中，例如在加工工业、化学工业或食品工业中。通常，料位测量设备安装在容器上方。在测量操作中，从料位测量设备朝容器中的填充物质发射微波信号，并且在依赖于信号在容器中传播的路径距离的传播时间之后将信号在容器中反射到料位测量设备的部分作为被接收信号接收回。基于被接收信号，推导出回波函数，该回波函数将被接收信号的振幅表达为位置的函本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用根据测量装置中传播时间原理工作的料位测量设备(3)来测量容器(1)中的填充物质的料位(L)的方法，其中，在空容器(1)的情况中，发射到所述容器(1)中的微波信号(T)的至少一部分经由在所述容器(1)的底部上的反射而反射回所述料位测量设备(3)，其中所述料位测量设备(3)发射微波信号(T)至所述容器(1)中并在依赖于该信号在所述容器(1)中传播的路径距离的传播时间之后把该信号在所述容器(1)中反射到所述料位测量设备(3)的部分作为被接收信号(R)而接收回，基于所述被接收信号(R)推导出回波函数(E(P))，所述回波函数把所述被接收信号(R)的振幅表达为与该信号的传播时间或该信号在所述容器...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：斯特凡·格伦弗洛，阿列克谢·马利诺夫斯基，克劳斯·潘克拉茨，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔两合公司，
类型：发明
国别省市：