温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种半导体器件，包括：包括多个存储器单元的第一存储器区域；测试单元，被配置成测试所述第一存储器区域，并从所述多个存储器单元中检测弱位；和，第二存储器区域，被配置成存储所述第一存储器区域的弱位地址（WBA），和预期要被存储在弱位中的数据，其中...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。