温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种基于图形识别的缺陷检索系统及其方法，该方法包括如下步骤：建立缺陷数据库，并采用图形边界轮廓算法对缺陷数据库中的各种缺陷图形进行计算，一一对应的建立各种缺陷的轮廓特征数据；接收所输入的待查缺陷的图片；采用图形边界轮廓算法对待查...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。