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半导体器件制造技术
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文档序号:8391058
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公开了一种半导体器件,其中W3≥((k2·(Dτ)1/2)2-L12)^(1/2);W2≥L1/K1/2(其中K≥2.5);并且W2-W1≥10μm,其中L1是漂移层(1)的厚度,D是载流子扩散系数;τ是寿命,k1是基于IGBT(100)和...
该专利属于株式会社电装所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社电装授权不得商用。
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