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制造碳化硅半导体器件的方法技术
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文档序号:8391047
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通过掩膜层(31)中的开口(OP)将第一导电类型的杂质注入到碳化硅衬底(90)上。分别形成由第一和第二材料制成的第一和第二膜(32,33)。在各向异性蚀刻过程中感测对第一材料执行的蚀刻,且随后停止各向异性蚀刻。通过由第一和第二膜(32,33...
该专利属于住友电气工业株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过住友电气工业株式会社授权不得商用。
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