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在非易失性存储元件的感测期间减小沟道耦合效应制造技术
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下载在非易失性存储元件的感测期间减小沟道耦合效应的技术资料
文档序号:8369225
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通过将在读取期间发生的沟道耦合的量与在验证期间发生的沟道耦合的量相匹配来降低在非易失性存储器的验证和读取期间的沟道耦合效应。在验证和读取期间所有位线可以一起被读取。在一个实施例中,当验证多个经编程状态的每个时在位线上建立第一偏压条件。当验证...
该专利属于桑迪士克科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过桑迪士克科技股份有限公司授权不得商用。
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