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本发明涉及一种基于径向基网络算法获取集成电路成品率的方法，属于集成电路技术领域，该方法包括：根据集成电路工艺厂商提供的工艺参数，采用径向基网络算法，建立一个替代电路仿真的替代模型，将工艺参数作为替代模型的自变量，电路性能指标作为替代模型的函...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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