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为了在用EUV辐射(4)照射用于EUV光刻的反射光学元件(2)时,防止该反射光学元件带电,提出了一种用于EUV光刻的光学系统,该光学系统包含:反射光学元件(2),其包括具有高反射涂层(22)的基底(21),在用EUV辐射(4)照射该基底时,...
该专利属于卡尔蔡司SMT有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过卡尔蔡司SMT有限责任公司授权不得商用。

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