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采用位移传感器的光学平板折射率检测装置属于光学测量技术领域。采用现有自动V棱镜折射仪检测需要将被测件加工出两个垂直平面，检测装置结构复杂。本实用新型之检测装置为，光源、成像光学系统、CCD图像传感器光学同轴依次排列；成像光学系统位于凸轮筒中...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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