采用位移传感器的光学平板折射率检测装置制造方法及图纸

采用位移传感器的光学平板折射率检测装置属于光学测量技术领域。采用现有自动V棱镜折射仪检测需要将被测件加工出两个垂直平面，检测装置结构复杂。本实用新型专利技术之检测装置为，光源、成像光学系统、CCD图像传感器光学同轴依次排列；成像光学系统位于凸轮筒中，并与位移传感器滑销连接；电机驱动凸轮筒旋转，控制与处理电路分别与电机、位移传感器电连接，与上位机串口连接，CCD图像传感器也与上位机电连接。与现有自动V棱镜折射仪相比，不论从部件的数量还是种类来看，本实用新型专利技术之检测装置具有结构简单、成本低的特点。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种采用位移传感器的光学平板折射率检测装置，属于光学测量

技术介绍
对透明光学材料折射率的准确检测是提高光学仪器质量的前提。现有光学材料折射率的检测方法是V棱镜法，所采用的装置为自动V棱镜折射仪，如申请号为90102943. 2的一件中国专利技术专利公开了一种自动V棱镜折射仪，该折射仪由光源、聚光镜、滤光片、狭缝、分束器、准直物镜、V棱镜、准直反射镜、莫尔光栅盘、角度编码器、变速振动狭缝、光电倍增管、驱动系统、控制电路、信号处理系统、计算机组成，该折射仪通过检测光通过V棱镜后的偏折角来求得折射率，检测过程是单色光经准直物镜后垂直入射到V棱镜上，若待测材料的折射率与V棱镜相同，则出射光不发生任何偏折，若不同，则以某一偏折角出射。由 光电倍增管、角度编码器获得该偏折角信息，输出电信号，经过数据处理，获得具有较高检测精度的检测结果，检测过程自动完成。但是，采用V棱镜法检测，需要将被待测料加工出两个垂直光洁平面，尽管如此，在待测材料与V棱镜之间仍存在空气楔，需要配制匹配液予以消除。然而，加工两个垂直平面在光学加工领域其难度要比加工两个平行平面高；而匹配液是一种易挥发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于位移传感器的光学平板折射率检测装置，其特征在于，光源（1）、成像光学系统（2）、CCD图像传感器（3）光学同轴依次排列；成像光学系统（2）位于凸轮筒（4）中，并与位移传感器滑销（5）连接；电机（6）驱动凸轮筒（4）旋转，控制与处理电路（7）分别与电机（6）、位移传感器（8）电连接，与上位机（9）串口连接，CCD图像传感器（3）也与上位机（9）电连接。

【技术特征摘要】
1.一种基于位移传感器的光学平板折射率检测装置，其特征在于，光源(I)、成像光学系统(2)、CXD图像传感器(3)光学同轴依次排列；成像光学系统(2)位于凸轮筒(4)中，并与位移传感器滑销(5)连接；电机(6)驱动凸轮筒(4)旋转，控制与处理电路(7)分别与电机(6 )、位移传感器(8 )电连接，与上位机(9 )串口连接，CXD图像传感器(3 )也与上位机(9 )电连接。2.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：向阳，丁红昌，刘波，刘畅，初宏亮，席娅娜，程远，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：实用新型
国别省市：