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一种测试存储阵列的方法及控制装置，所述存储阵列中，同一列的存储单元共用一条位线，同一行的存储单元共用一条字线，每两行存储单元共用一条源线，所述测试方法包括：施加源线测试电压至与存储单元连接的所有源线；施加不为0V的位线测试电压至与存储单元连...
该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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