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碳化硅半导体器件及其制造方法技术
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文档序号:8165848
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本发明提供了包括欧姆电极的碳化硅半导体器件以及制造这种碳化硅半导体器件的方法,所述欧姆电极通过在不形成肖特基接触的情况下抑制碳沉积来实现与布线的粘附性的提高。具体地,在针对SiC半导体器件形成欧姆电极时,在SiC层(11)的一个主表面上形成...
该专利属于住友电气工业株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过住友电气工业株式会社授权不得商用。
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