下载多栅器件的形成方法的技术资料

文档序号:8162498

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一种多栅器件的形成方法,包括:提供半导体衬底;对所述半导体衬底进行刻蚀以形成凸出的鳍部;对所述鳍部底部的半导体衬底进行刻蚀,在所述鳍部和半导体衬底之间形成空隙;形成介质层,覆盖所述半导体衬底和鳍部,并填充所述空隙;对所述介质层进行刻蚀,暴露...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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