温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种半导体装置及其测试方法。半导体装置包括：存储器芯片，包括要测试的存储器电路；以及逻辑芯片，包括内部逻辑电路和与内部逻辑电路和存储器电路连接的测试处理器，用于通过外部引脚来访问存储器电路并且测试存储器电路，其中测试处理器包括高速测试控制电...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。