下载半导体器件测试机台送料装置的技术资料

文档序号:8149843

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本实用新型提供了一种半导体器件测试机台送料装置,包括基板和送料机构,所述送料机构包括机台、送料轨道和夹取装置,所述机台上开设有凹槽,所述凹槽将所述机台上表面分成左台面和右台面两部分,所述送料轨道左右对称地开设在在所述凹槽内、靠近所述左台面和...
该专利属于矽品科技(苏州)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过矽品科技(苏州)有限公司授权不得商用。

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