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半导体制造装置制造方法及图纸
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文档序号:8131711
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本发明提供一种可抑制消耗电力的半导体制造装置。半导体制造装置(1)具备:对处理空间S进行划分的处理容器(2),该处理容器(2)具有上表面(2a);设于处理空间S内的载置台(3);以与载置台(3)对面的方式设于该载置台的上方的上部电极(20)...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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