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本发明属于光电检测技术领域，公开了一种红外热像仪低温测温的辐射定标方法，可延拓目前红外热像仪的低温测温范围至-100℃，并将测温精度提高到1℃以内。为提高低温辐射定标的精度，本发明在真空、低温环境下进行辐射定标数据采集。在真空、低温环境中通...
该专利属于北京理工大学;北京卫星环境工程研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学;北京卫星环境工程研究所授权不得商用。

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