一种红外热像仪低温测温的辐射定标方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光电检测
，涉及对(-100°c 0°C)的低温背景及目标进行基于红外热成像的测温时的辐射定标方法及温度反演方法。
技术介绍
红外热成像测温以其非接触式测量、响应快、直观显示温度场分布、适合大面阵作业等特点，广泛应用于国防安全保障、科考研究、工业无损检测、电力、建筑漏热检测、医疗病理检测等领域。红外热像仪对高温目标响应度高、线性好，测温技术较为成熟。随着红外热成像测温向航天、科研等低温目标测量领域不断延伸，其低温测量范围、低温背景下的测温精度存在明显不足，如航天领域的某些环境中，待测温目标温度可达-100°c。目前，美国的FLIR、Fluke,法国的Sofradir，国内的浙江大立、武汉高德、广州 飒特等所生产的红外热像仪只标称可对_20°C (部分热像仪标称_40°C )以上温度的目标进行测温。而在实际实验中，这些红外热像仪在_20°C 0°C段的测温值误差过大，甚至失去温度反演能力。以上两个方面的不足成为抑制红外热成像测温技术在低温范围进一步发展的瓶颈。本专利技术根据红外热像仪测温机理分析得出造成以上问题的原因在于红外热像仪在低温段的辐射...
【技术保护点】
一种红外热像仪低温测温的辐射定标方法。该辐射定标方法其特征在于：a）红外热像仪的低温能量可测量能力的理论分析；b）辐射定标板黑体面源的要求与设计；c）基于红外热像仪的辐射定标实验中，红外热像仪对辐射定标板定标温度点的采集数据为14位原始灰度；d）基于红外热像仪数据和定标测试数据的辐射定标灰度数据处理；e）红外热像仪测温温度的反演方法与温度反演函数拟合。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张罗莎，白廷柱，裴一飞，陶涛，郑海晶，
申请(专利权)人：北京理工大学，北京卫星环境工程研究所，
类型：发明
国别省市：
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