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一种用于检查和分拣多个IC单元的方法，所述方法包括以下步骤：将包含所述IC单元的框架传送至单元拾取站；在所述传送步骤期间对所述单元进行第一检查并记录随后的结果；从所述框架移除所述单元，并将所述单元从所述单元拾取站移动至翻转站；在所述移动步骤...
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