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公开了一种包括形成多条管线的多个管线互连集成电路管芯的晶片。每条管线中的多个管芯连接以接收来自管线中的相邻管芯的扫描输出检测数据。位于多个管线互连IC管芯外的晶片级检测通路机构（TAM）收发机电路系统共用地连接至各条管线以并行地提供输入检测...
该专利属于超威半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过超威半导体公司授权不得商用。

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