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低信号环境中的电容开路测试制造技术
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文档序号:7763323
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本发明公开了一种在低信号环境中对电连接进行电容测试的改进系统。所述系统包括提高电容探针灵敏度的结构。一个结构是隔离物,所述隔离物被设置为允许所述探针部分地插入所述元件中,而不会接触所述引脚。所述隔离物可以是所述探针上的卡圈,所述卡圈接触所述...
该专利属于泰拉丁公司所有,仅供学习研究参考,未经过泰拉丁公司授权不得商用。
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