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本发明公开了一种微球及其表面涂层密度的测量方法，涉及微球测量技术领域。所述方法包括步骤：B：将待测微球倒入进样槽，记录待测微球的数量；C：待测微球从进样槽进入下落装置，对处于下落过程中的待测微球进行动态图像采集；D：对待测微球的图像进行筛选...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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