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用于光刻的检验方法技术
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下载用于光刻的检验方法的技术资料
文档序号:7363627
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一种用于确定重叠误差的标记,包括子特征(46),该子特征的最小节距大致等于产品特征的最小节距。对变形和像差的敏感性因此与对产品特征的敏感性相同。然而,当显影标记时,子特征并入并且仅显影较大的特征的轮廓。...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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