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本发明公开了一种多层电路板检测方法，包括步骤a，提供一种用于多层电路板层偏检测的检测装置，所述检测装置设置包括设置在多层电路板工艺边上的检测单元和检测电路板；步骤b，所述检测单元插入所述工艺边上用于检测的检测电路板并根据检测电路板的偏移量导...
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