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本发明提供一种进行采样相位设定的主控制器、半导体装置以及方法。主控制器在VDS模式以及FDS模式下进行接收数据的采样，该主控制器包括：保持VDS时的相位偏移量的VDS相位寄存器；保持FDS时的相位偏移量的FDS相位寄存器；表示以VDS和FD...
该专利属于株式会社东芝所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社东芝授权不得商用。

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