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化学机械研磨装置、化学机械研磨方法以及控制程序制造方法及图纸
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文档序号:7149816
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在大马士革制程中在对被堆积于由有机系的low-k膜构成的层间绝缘膜上的铜进行研磨时,CMP装置可以防止发生划痕或凹陷。在该CMP装置中,使粘贴了研磨垫(12)的旋转头(10)的旋转中心轴与将半导体晶片(100)面朝上安装的旋转台(14)的旋...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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