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Cu膜的成膜方法和存储介质技术
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文档序号:7130250
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在腔室(1)内收纳具有CVD-Ru膜的晶片W,在腔室(1)内以气相状态导入含有作为Cu配位化合物的Cu(hfac)TMVS的成膜原料,其中,作为成膜中产生的副产物Cu(hfac)2的蒸汽压低于成膜原料的蒸汽压,在形成于晶片W的CVD-Ru膜...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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