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本发明公开了一种半导体激光器动态光谱测试方法及装置，采用动态波长解调技术来实现光谱特性的动态快速测量，采用长周期光纤光栅作为波长的解调装置，同时利用温度作为光栅布拉格波长的动态调节参数，根据实时测量的光强大小来实现半导体激光器光谱特性的动态...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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