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一种半导体电容器结构,包括:半导体衬底;位于所半导体衬底表面的第一多晶硅层;还包括:位于第一多晶硅层表面,且覆盖第一多晶硅层的侧壁的第一介质层;位于所述第一介质层表面,且覆盖第一介质层的侧壁的第二多晶硅层;贯穿第二多晶硅层、第一介质层,且暴...该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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一种半导体电容器结构,包括:半导体衬底;位于所半导体衬底表面的第一多晶硅层;还包括:位于第一多晶硅层表面,且覆盖第一多晶硅层的侧壁的第一介质层;位于所述第一介质层表面,且覆盖第一介质层的侧壁的第二多晶硅层;贯穿第二多晶硅层、第一介质层,且暴...