下载OTP器件的形成方法的技术资料

文档序号:6040454

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一种OTP器件的形成方法,包括:提供半导体基底,所述半导体基底上并列形成有选择栅和浮栅,所述半导体基底上还形成有介质层,覆盖所述半导体基底的表面、选择栅和浮栅;在所述介质层的表面上依次形成抗反射层和光刻胶层,并对所述光刻胶层进行图形化,定义...
该专利属于上海宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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