温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

发光元件的缺陷检测方法及系统。该发光元件的缺陷检测方法，应用于检测一待测发光元件，可利用一能阶大于待测发光元件的检测光源照射待测发光元件，以激发待测发光元件发出荧光，而当待测发光元件具有缺陷时，缺陷便会被荧光照射而显示出来。根据以上方法的精...
该专利属于晶元光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶元光电股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。