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本发明提供一种测定误差的修正方法及电子元器件特性测定装置，可消除因测定夹具的端口间的泄漏信号分量造成的修正误差，以提高修正精度。对于具有互异电学特性的修正数据获取试样，根据安装于基准测定夹具（２０）的状态与安装于测试测定夹具（３０）的状态下...
该专利属于株式会社村田制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社村田制作所授权不得商用。

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