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本发明的光学特性测量装置（１）具备光源部（１０）、第１光耦合器（２１）、第２光耦合器（２２）、透镜（３１）、透镜（３２）、相位调制部（４０）、驱动部（４１）、光程长度差调整部（５０）、控制部（５１）、受光部（６０）、同步检测部（７０）以及测...
该专利属于浜松光子学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过浜松光子学株式会社授权不得商用。

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