流路中流动的样本的光学特性测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术的光学特性测量装置（１）具备光源部（１０）、第１光耦合器（２１）、第２光耦合器（２２）、透镜（３１）、透镜（３２）、相位调制部（４０）、驱动部（４１）、光程长度差调整部（５０）、控制部（５１）、受光部（６０）、同步检测部（７０）以及测量部（８０）。相位调制部（４０）以频率（ｆ）对光进行相位调制。同步检测部（７０）在输出对应于从受光部（６０）输出的电信号中所含的频率（ｆ）的成分的大小的值的第１信号的同时，输出对应于该电信号中所含的频率（２ｆ）的成分的大小的值的第２信号。控制部（５１）以根据从同步检测部（７０）输出的第１信号或者第２信号而使被光程长度差调整部（５０）调整的光程长度差为规定值的方式进行控制。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及利用光的干涉来测量流路中的样本的光学特性的光学特性测量装置。
技术介绍
利用光的干涉的光学特性测量装置例如由专利文献1、2所公开。利用马赫-曾德 尔干涉仪(Mach-Zehnder Interferometer)的光学特性测量装置能够测量流路中的样本的 光学特性。即这种光学特性测量装置以由第1光耦合器将光调制成2个分支之后的一个分 支光横断流路的方式由第2光耦合器使该分支光和另一个分支光干涉，通过检测该干涉光 的强度从而能够测量流路中的样本的光学特性。 具体来说，所谓样本的光学特性是光学厚度和折射率以及吸收等。由此，可以知道细胞等的样本的大小(体积)和干燥重量。由测量部测量相位差。将相位差①的因样本的通过而引起的变化量作为A。s。例如，在试图测量样本的光学厚度的情况下，能够根据"A 0)s( A /2 )"计算出细胞的光学厚度。如果知道了样本的折射率，那么也能够计算出样本的粒子直径。在样本内部的折射率分布是一样的情况下，光学厚度与体积存在比例关系，在样本内部的折射率分布是不一样的情况下，光学厚度与样本的干燥重量存在比例关系(非专利文献l)。另外，样本的折射率可以根本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学特性测量装置，其特征在于，是利用光的干涉来测量流路中的样本的光学特性的光学特性测量装置，具备：光源部，其输出光；第１光耦合器，其将从所述光源部输出的光调制成２个分支并作为第１分支光以及第２分支光输出；第２光耦合器，其输入从所述第１光耦合器输出并经过第１分支光路的第１分支光，并输入从所述第１光耦合器输出并在经过第２分支光路的同时通过该第２分支光路上的所述流路的第２分支光，并且使这些输入的第１分支光以及第２分支光干涉并输出该干涉光；相位调制部，其被设置于所述第１光耦合器与所述第２光耦合器之间的所述第１分支光路以及所述第２分支光路中的任意的光路上，并以频率ｆ对在该光路上传播的光进行相位调制；...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：岩井秀直，山内丰彦，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]