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本发明提供了一种互连线的电迁移评估方法、装置、存储介质及电子设备，该方法包括：响应于评估指令，获取待测试的互连线几何模型以及评估条件参数，所述互连线几何模型所属的互连线具有蝶形缺陷，所述评估条件参数包括温度信息和电流信息；基于所述互连线几何...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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