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本技术公开了一种便于半导体芯片模块测试的辅助装置，属于芯片测试技术领域。一种便于半导体芯片模块测试的辅助装置，包括装置本体。该便于半导体芯片模块测试的辅助装置，将芯片本体放置到放置槽内，固定梯形块运动挤压第二滑坡，使得卡块带着活动板在移动槽...
该专利属于合肥中恒微半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥中恒微半导体有限公司授权不得商用。

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