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本发明涉及一种用于确定用于固定半导体组件(4)中的半导体元件(2)的接触层的老化状态的方法，包括以下步骤：‑ 在载体层(8)上施加第一接触层(6)以将半导体元件(2)固定在该载体层(8)上，‑ 其中，在半导体元件(2)上在远离第一接触层(6...
该专利属于西门子股份公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子股份公司授权不得商用。

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