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本发明公开了处理器芯片功耗测试方法和测试系统，属于处理器芯片技术领域，所述方法包括：采集处理器芯片实时测试数据并进行处理，确定处理器芯片特征测试数据；训练处理器芯片功耗测试预测模型，对处理器芯片特征测试数据进行分析，预测处理器芯片功耗，确定...
该专利属于安吉芯锐科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安吉芯锐科技有限公司授权不得商用。

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